乱数を用いた大数の法則 (LLN) と中心極限定理 (CLT) のシミュレーションと可視化。
乱数シミュレーションを用いた母平均の信頼区間推定（t分布）および両側仮説検定。
従来のテスト理論の限界を克服し、IRT（2パラメータロジスティックモデル）、ベイズ推論、ニュートン法を用いて受験者の能力値を動的に推定するe-Testingシステムのフルスクラッチ開発。
